主流DSP存储器测试方法学习指南：TI KeyStone

2014-7-23 11:32:50 2338 存储器

0 ` 本帖最后由 wangjiamin2014 于 2014-7-23 11:34 编辑分享一下存储器相关的问题是DSP 应用中非常普遍的问题。本文介绍KeyStone I 系列DSP 上一些存储器测试的方法。 1 KeyStone DSP存储器系统简介　　KeyStoneDSP 存储器架构如图1 所示对不同的DSP，存储器的大小可能不同，DSP 核和EDMA 传输控制器的个数也可能不同。表1比较了KeyStoneI 系列中常用的3颗DSP。 2存储器测试算法本文介绍几种存储器测试算法，并讨论这几种算法的用途。 2.1数据测试　　下面是数据测试的伪代码：　　for（memory range under test）　　fill the memory with a value; 　　for（memory range under test）　　read back the memory andcompare the readback value to the written value 　　通常，这个测试会被执行几次，每次填充的值不一样。常用的填充值包括0x55555555，0xAAAAAAAA， 0x33333333， 0xCCCCCCCC， 0x0F0F0F0F，0xF0F0F0F0， 0x00FF00FF，0xFF00FF00FF00， 0xFFFFFFFF， 0。　　这个测试可以用来检测数据比特粘连（bit-stuck）问题，例如，如果，　　writtenvalue = 0， readbackvalue = 0x8，　　表示bit3 粘连到1. 　　如果　　writtenvalue = 0xFFFFFFFF， readbackvalue = 0xFFFFFFFE，　　表示bit0 粘连到0. 　　如果能正确的写入并读出0x55555555（或0xAAAAAAAA），说明相邻的两个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x33333333（或0xCCCCCCCC），说明相邻的4 个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x0F0F0F0F（或0xF0F0F0F0），说明相邻的8 个比特没有粘连… 　　这个算法既可以用来测试数据总线连接，也可以用于测试存储器单元。当用于测试存储器单元时则每一个存储单元都需要写读所有的值，这将是比较耗时的测试；而用于测试数据总线连接时，只需要把所有的值都写读一遍就可以了（地址不限）。 ........ 具体内容请看附件主流DSP存储器测试方法学习指南：TI KeyStone.pdf (518.57 KB, 下载次数: 42 ) 更多精彩内容就看《智能工业特刊》[url=https://www.elecfans.com/tekan/201406_industrial.html?utm_source=elecfans&utm_medium=textlink0723&utm_campaign=industrial][/url] ` 0
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胡薇 · 2014-7-24 09:35:05 沙发多谢楼主，资料我看了，很不错

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小师弟 · 2014-7-24 09:41:43 板凳 lanqiuyihao 发表于 2014-7-24 09:35 多谢楼主，资料我看了，很不错更多好文章和资料可以去看看《智能工业特刊》免费下载的哦

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