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1、汽车SoC嵌入式存储器的优化诊断 汽车片上系统(SoC)中的嵌入式存储器通常占据了很大的芯片面积。因此，它们的缺陷会严重影响任何自动驱动设备的生产产量。伴随着技术提升阶段和批量生产期间的统计过程控制原因，除了纯粹的测试数据外，收集诊断信息也是一种良好的汽车行业实践。设计师和技术专家必须从故障设备中得到准确的诊断结果，以便通过在源头上识别和纠正相关问题来得出正确的维修策略结论，对错误行为作出反应。一个常用的方法是在收集所有故障位坐标的基础上生成故障位图，并逐一发送给测试人员。更为有效的是，遇到的故障可以检索。 本文介绍了一种在SoC嵌入式存储器测试期间压缩诊断信息方法。更具体地说，该方法被应用于诊断嵌入式FLASH存储器。这一策略允许在没有任何损失的情况下重建故障位图，而压缩方法获得一个近似值。所提出的方法只使用了基于坐标的位映射方法所要求的一小部分内存，并且与压缩方法相当。以适度的测试时间开销为代价，所提出的策略允许大幅增加可被完全诊断的设备数量，而没有任何位图重建损失。在一个真实的嵌入式FLASH生产场景中，大多数故障设备在从片上到测试主机的一次传输后就被诊断出来。
原作者：P. Bernardi 
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