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似乎内部温度采样不太准确,下面是测试的温度和实际代码
测量芯片部分有26.7度,实际输出是-1~2度左右。 UINT8 i; signed short RoughCalib_Value = 0; // ADC粗调偏差值 SetSysClock( CLK_SOURCE_PLL_60MHz ); /* 配置串口调试 */ DebugInit(); PRINT( "Start @ChipID=%02X ", R8_CHIP_ID ); /* 温度采样并输出, 包含数据校准 */ PRINT( " 1.Temperature sampling... " ); ADC_InterTSSampInit(); RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough(); // 用于计算ADC内部偏差,记录到变量 RoughCalib_Value中,注意这个变量需要定义为有符号变量 for( i = 0; i < 20; i++ ) { abcBuff = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value; // 连续采样20次 } for( i = 0; i < 20; i++ ) { PRINT( "%d ", ADC_GetCurrentTS(abcBuff)); } |
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1个回答
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目前的EVT中的温度转换公式的斜率将之改为两倍之后,变化率的问题可以解决,温度绝对值上的偏差需要根据实际温度进行修正。
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只有小组成员才能发言,加入小组>>
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